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晶錠渦流法電阻率測試儀：電阻率是用來表示各種物質電阻特性的物理量。某種物質所制成的原件(常溫下20°C)的電阻與橫截面積的乘積與長度的比值叫做這種物質的電阻率。電阻率與導體的長度、橫截面積等...

霍爾遷移率（Hall mobility）是指?Hall系數(shù)RH與?電導率σ的乘積，即│RH│σ，具有遷移率的量綱?。其表達式為μH =│RH│σ。?12定義和計算方法霍爾遷移率是Hall系數(shù)RH與電導...

??渦流法方阻測試儀的方阻是指一個正方形?薄膜導電材料邊到邊的電阻?，也稱為方塊電阻或?膜電阻。方阻是衡量薄膜狀導電材料（如?蒸發(fā)鋁膜、?導電漆膜、印制電路板銅箔膜等）厚度的一個參數(shù)，其大小與材料的電...

是一款汞探針CV自動圖形掃描測量系統(tǒng)。它使用高頻CV測量分析系統(tǒng)，可以對75mm、100mm、125mm、150mm、200mm（以及300mm）直徑的測試片進行測量和自動成圖。該系統(tǒng)采用汞探針設計，...

電化學EC-V剖面濃度測試儀可高效、準確的測量半導體材料（結構，層）中的摻雜濃度分布。選用合適的電解液與材料接觸、腐蝕，從而得到材料的摻雜濃度分布。電容值電壓掃描和腐蝕過程由軟件全自動控制。

非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀，方阻測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，晶圓、硅片厚...

我司憑借先進的技術和豐富的產(chǎn)品線，已發(fā)展成為中國大陸少數(shù)具有一定國際競爭力的半導體專用設備提供商，主營非接觸方阻測試儀、晶圓方阻測試儀，方阻測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率...

霍爾遷移率測試儀主要利用微波測試原理，非接觸式測量射頻HEMT結構半導體材料的方阻、遷移率及載流子濃度。可實現(xiàn)單點測試，亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能，具有快速，無損，準確等優(yōu)勢，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)...

渦流法?電阻率方阻是一種利用電磁感應原理進行檢測的方法。當載有交變電流的試驗線圈靠近導體工件時，會產(chǎn)生交變磁場，進而在工件中感生出密閉的環(huán)狀電流，即渦流。渦流的大小、相位及流動形式受到工件性質（如電導...

設備主要利用渦電流測試原理，非接觸測試半導體材料，石墨烯，透明導電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）?？蓪崿F(xiàn)單點測試，亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質量控制

PN型測試儀可以測試硅片PN型號、硅片厚度也是影響生產(chǎn)力的一個因素，因為它關系到每個硅塊所生產(chǎn)出的硅片數(shù)量。超薄的硅片給線鋸技術提出了額外的挑戰(zhàn)，因為其生產(chǎn)過程要困難得多。除了硅片的機械脆性以外，如果...

我司主營：晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，遷移率少子壽命測試儀。